Radiation Induced Charge Loss Mechanisms Across the Dielectrics of Floating Gate Flash Memories

2019 ◽  
Vol 6 (3) ◽  
pp. 807-843
Author(s):  
Giorgio Cellere ◽  
Andrea Cester ◽  
Alessandro Paccagnella
Keyword(s):  
Floating Gate ◽  
Flash Memories ◽  
Charge Loss ◽  
Radiation Induced ◽  
Induced Charge ◽  
Loss Mechanisms

scholarly journals Numerical modeling of radiation-induced charge loss in CMOS floating gate cells

Elektron ◽  
2021 ◽  
Vol 5 (2) ◽  
pp. 100-104
Author(s):  
Lucas Sambuco Salomone ◽  
Mariano Garcia-Inza ◽  
Sebastián Carbonetto ◽  
Adrián Faigón
Keyword(s):  
Numerical Modeling ◽  
Floating Gate ◽  
Charge Loss ◽  
Radiation Induced ◽  
Induced Charge

Mediante un modelo numérico desarrollado recientemente y basado en principios físicos, se estudia la respuesta a la radiación de celdas de compuerta flotante programadas/borradas. El rol que juega la captura de carga en los óxidos en el desplazamiento total de la tensión umbral con la dosis es debidamente evaluado a través de la variación de la tasa de captura de los huecos generados por radiación. Se considera un modelo analítico simplificado y se discuten sus limitaciones.

Modeling of Heavy Ion Induced Charge Loss Mechanisms in Nanocrystal Memory Cells

2008 ◽  
Vol 55 (6) ◽  
pp. 2895-2903 ◽  
Author(s):  
Andrea Cester ◽  
Nicola Wrachien ◽  
James R. Schwank ◽  
Gyorgy Vizkelethy ◽  
Rosario Portoghese ◽  
...  
Keyword(s):  
Heavy Ion ◽  
Memory Cells ◽  
Charge Loss ◽  
Induced Charge ◽  
Nanocrystal Memory ◽  
Loss Mechanisms

Modeling of Charge Loss Mechanisms during the Short Term Retention Operation in 3-D NAND Flash Memories

2019 ◽  
Author(s):  
Changbeom Woo ◽  
Myeongwon Lee ◽  
Shinkeun Kim ◽  
Jaeyeol Park ◽  
Gil-Bok Choi ◽  
...  
Keyword(s):  
Nand Flash ◽  
Short Term ◽  
Flash Memories ◽  
Term Retention ◽  
Charge Loss ◽  
Loss Mechanisms
Sign in / Sign up

Export Citation Format

Share Document