Physikalisch-Technischer Teil
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The contrast of transmission electron diffraction patterns

Physikalisch-Technischer Teil ◽

10.1007/978-3-642-50195-1_94 ◽

1960 ◽

pp. 300-302

Author(s):

J. S. Halliday

Keyword(s):

Electron Diffraction ◽

Transmission Electron Diffraction ◽

Transmission Electron ◽

Diffraction Patterns

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The variations in background intensity of electron diffraction patterns

Physikalisch-Technischer Teil ◽

10.1007/978-3-642-50195-1_93 ◽

1960 ◽

pp. 297-299

Author(s):

J. S. Halliday

Keyword(s):

Electron Diffraction ◽

Background Intensity ◽

Diffraction Patterns

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Die Streumatrix für die Elektronenbeugung an durchstrahlten Kristallplatten und ihre Verwendung für die Berechnung elektronenoptischer Kristallgitterbilder

Physikalisch-Technischer Teil ◽

10.1007/978-3-642-50195-1_92 ◽

1960 ◽

pp. 295-297

Author(s):

H. Niehrs

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Materialbearbeitung mit Elektronen-Strahlen

Physikalisch-Technischer Teil ◽

10.1007/978-3-642-50195-1_86 ◽

1960 ◽

pp. 276-278 ◽

Cited By ~ 1

Author(s):

K. H. Steigerwald

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Microanalysis with the X-ray scanning microscope

Physikalisch-Technischer Teil ◽

10.1007/978-3-642-50195-1_83 ◽

1960 ◽

pp. 267-269 ◽

Cited By ~ 2

Author(s):

P. Duncumb

Keyword(s):

Scanning Microscope ◽

X Ray

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Elektronen-Interferenz-Mikroskopie

Physikalisch-Technischer Teil ◽

10.1007/978-3-642-50195-1_75 ◽

1960 ◽

pp. 233-234

Author(s):

R. Buhl

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Ein Elektronen-Emissions-Mikroskop für metallkundliche Anwendungen

Physikalisch-Technischer Teil ◽

10.1007/978-3-642-50195-1_70 ◽

1960 ◽

pp. 212-215

Author(s):

G. Möllenstedt ◽

H. Düker

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The new electron microscope “Tronscope TRS-50” Part II: Method of alignment and inspection

Physikalisch-Technischer Teil ◽

10.1007/978-3-642-50195-1_60 ◽

1960 ◽

pp. 177-181

Author(s):

Kazuhiko Akashi ◽

Tatsunosuke Masuda ◽

Hiroshi Tochigi

Keyword(s):

Electron Microscope

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Recent progress in field emission at high current densities

Physikalisch-Technischer Teil ◽

10.1007/978-3-642-50195-1_6 ◽

1960 ◽

pp. 20-25

Author(s):

J. K. Trolan ◽

W. P. Dyke

Keyword(s):

Field Emission ◽

Recent Progress ◽

High Current ◽

Current Densities

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A new high voltage (350 kV) universal electron microscope and its applications

Physikalisch-Technischer Teil ◽

10.1007/978-3-642-50195-1_54 ◽

1960 ◽

pp. 165-166 ◽

Cited By ~ 1

Author(s):

K. Kobayashi ◽

E. Suito ◽

S. Shimadzu

Keyword(s):

Electron Microscope ◽

High Voltage

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