Far‐Infrared Interference Technique for Determining Epitaxial Silicon Thickness

1972 ◽  
Vol 43 (3) ◽  
pp. 1171-1178 ◽  
Author(s):  
M. A. Saifi ◽  
R. H. Stolen
1997 ◽  
Vol 71 (4) ◽  
pp. 515-517 ◽  
Author(s):  
A. G. U. Perera ◽  
W. Z. Shen ◽  
W. C. Mallard ◽  
M. O. Tanner ◽  
K. L. Wang

2002 ◽  
Vol 4 ◽  
pp. 291-291
Author(s):  
L. Cambrésy ◽  
F. Boulanger ◽  
G. Lagache ◽  
B. Stepnik
Keyword(s):  

2002 ◽  
Vol 4 ◽  
pp. 333-333
Author(s):  
S. K. Ghosh ◽  
D. K. Ojha ◽  
R. P. Verma

1988 ◽  
Vol 49 (11) ◽  
pp. 1901-1910 ◽  
Author(s):  
F. Masset ◽  
L. Lechuga-Fossat ◽  
J.-M. Flaud ◽  
C. Camy-Peyret ◽  
J.W.C. Johns ◽  
...  

1983 ◽  
Vol 44 (C3) ◽  
pp. C3-867-C3-872 ◽  
Author(s):  
H. K. Ng ◽  
T. Timusk ◽  
K. Bechgaard

Sign in / Sign up

Export Citation Format

Share Document