Determination of the thickness of Al oxide films used as barriers in magnetic tunneling junctions

2001 ◽  
Vol 78 (20) ◽  
pp. 3103-3105 ◽  
Author(s):  
W. Zhu ◽  
C. J. Hirschmugl ◽  
A. D. Laine ◽  
B. Sinkovic ◽  
S. S. P. Parkin
2001 ◽  
Vol 90 (10) ◽  
pp. 5202-5207 ◽  
Author(s):  
E. Z. Luo ◽  
S. K. Wong ◽  
A. B. Pakhomov ◽  
J. B. Xu ◽  
I. H. Wilson ◽  
...  

2007 ◽  
Vol 76 (21) ◽  
Author(s):  
E. S. Cruz de Gracia ◽  
L. S. Dorneles ◽  
L. F. Schelp ◽  
S. R. Teixeira ◽  
M. N. Baibich

2002 ◽  
Vol 91 (1) ◽  
pp. 217 ◽  
Author(s):  
J. H. Lee ◽  
H. D. Jeong ◽  
H. Kyung ◽  
C. S. Yoon ◽  
C. K. Kim ◽  
...  

Sign in / Sign up

Export Citation Format

Share Document