Scanning probe optical microscopy of evanescent fields

1998 ◽  
Vol 69 (8) ◽  
pp. 2981-2987 ◽  
Author(s):  
R. S. Taylor ◽  
K. E. Leopold ◽  
M. Wendman ◽  
G. Gurley ◽  
V. Elings
Author(s):  
Kwang Hyup An ◽  
Brendan O'Connor ◽  
Kevin P. Pipe ◽  
Yiying Zhao ◽  
Max Shtein

1995 ◽  
Vol 57 (2-3) ◽  
pp. 313-317 ◽  
Author(s):  
S. Kawata ◽  
Y. Inouye

Author(s):  
A. V. Mezin ◽  
A. E. Efimov ◽  
D. O. Solovyeva ◽  
I. S. Vaskan ◽  
V. A. Oleinikov ◽  
...  

2017 ◽  
Vol 25 (21) ◽  
pp. 25929 ◽  
Author(s):  
Gitanjali Kolhatkar ◽  
Julien Plathier ◽  
Alain Pignolet ◽  
Andreas Ruediger

2021 ◽  
Vol 60 (08) ◽  
Author(s):  
Gleb M. Katyba ◽  
David G. Melikyants ◽  
Nikita V. Chernomyrdin ◽  
Vladimir N. Kurlov ◽  
Kirill I. Zaytsev

2001 ◽  
Vol 385 (1-2) ◽  
pp. 96-108 ◽  
Author(s):  
Wei-Li Yuan ◽  
Edgar A O'Rear ◽  
Gyoujin Cho ◽  
Gary P Funkhouser ◽  
Daniel T Glatzhofer

Author(s):  
Григорий Иосифович Свердлик ◽  
Анжела Юрьевна Атаева ◽  
Амонд Рафаэлович Атаев ◽  
Елена Александровна Хадзарагова ◽  
Людмила Тотразовна Вазиева

В представленной работе рассмотрены методы определения размеров наночастиц различными способами. Определен эффективный метод нахождения возможных вариантов. Содержатся сведения о многообразии этих методов и о приёмах их реализации. Выбрана и проанализирована информация по различным методам и исследованиям. Рассмотрены принципиально отличающиеся методы нахождения размеров наночастиц. Одними из перспективных методов являются бесконтактные (оптические). Подвергнуты анализу и приведены диапазоны крупности исследуемых частиц при использовании методов: оптической микроскопии, электронной микроскопии, сканирующей зондовой микроскопии. Описаны принципы работы и возможные схемы установок для изучения исследуемого материала. Более подробно освещен седиментационный метод с применением центрифугирования и рентгеновского принципа детекции. Отмечены его преимущества перед другими методами. Приведены примеры его использования на экспериментальной установке, позволяющей получать дифференциальные и интегральные характеристики в различных базисах, которые позволяют анализировать распределение частиц по крупности при гранулометрическом исследовании материалов, включая наноматериалы. In the presented work, various methods for determining the size of nanoparticles are considered. An effective method for finding possible options has been determined. Information on various methods and studies was selected and analyzed. Fundamentally different methods for finding the sizes of nanoparticles are considered. Non-contact (optical) methods are the most promising. The particle size ranges of the investigated particles are analyzed and presented using the next methods: optical microscopy, electron microscopy, scanning probe microscopy. The principles of operation and possible schemes of installations for studying the material under study are described. The sedimentation method, using centrifugation and the X-ray principle of detection, is described in more detail. Its advantages over other methods are noted. Examples are given of its use in an experimental setup that allows obtaining differential and integral characteristics in various bases, which make it possible to analyze the particle size distribution in the granulometric study of materials, including nanomaterials.


Sign in / Sign up

Export Citation Format

Share Document