Analyse de la dégradation thermique du Poly(éther imide)

Emilie Courvoisier; Yoann Bicaba; Xavier Colin

doi:10.1051/mattech/2018006

Analyse de la dégradation thermique du Poly(éther imide)

Matériaux & Techniques ◽

10.1051/mattech/2018006 ◽

2017 ◽

Vol 105 (4) ◽

pp. 402

Author(s):

Emilie Courvoisier ◽

Yoann Bicaba ◽

Xavier Colin

Keyword(s):

Bisphenol A ◽

Micro Indentation ◽

Module D’Young

La dégradation thermique du PEI a été étudiée dans de larges intervalles de température (entre 180 et 250 °C) et de pression partielle d’oxygène (entre 0,21 et 50 bars). Tout d’abord, les mécanismes de vieillissement thermique ont été analysés et élucidés par spectroscopie IRTF et par calorimétrie différentielle (DSC) sur des films de PEI suffisamment minces (entre 10 et 60 μm d’épaisseur) pour s’affranchir totalement des effets de la diffusion d’oxygène. Comme attendu, et par analogie avec d’autres polymères aromatiques de structure chimique similaire, l’oxydation se produit préférentiellement sur les groupes méthyle de l’unité isopropylidène du motif bisphenol A, causant la disparition de leur bande d’absorption IR caractéristique à 2970 cm−1 et la croissance d’une nouvelle bande d’absorption IR centrée à 3350 cm−1 et attribuée aux groupes alcool. De plus, l’oxydation conduit successivement à une prédominance relative des coupures de chaîne (diminution de Tg) et de la réticulation (augmentation de Tg). Enfin, les conséquences de l’oxydation sur les propriétés élastiques ont été analysées et élucidées par micro-indentation sur des sections droites préalablement polies de plaquettes de PEI de 3 mm d’épaisseur. Cependant, l’augmentation du module d’Young dans la couche superficielle oxydée est principalement due à un vieillissement physique.

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Analyse de la dégradation thermique du Poly(éther éther cétone)

Matériaux & Techniques ◽

10.1051/mattech/2018007 ◽

2017 ◽

Vol 105 (4) ◽

pp. 403 ◽

Cited By ~ 1

Author(s):

Emilie Courvoisier ◽

Yoann Bicaba ◽

Xavier Colin

Keyword(s):

Micro Indentation ◽

Module D’Young

La dégradation thermique du PEEK a été étudiée à l’état caoutchoutique dans de larges intervalles de température (entre 180 et 320 °C) et de pression partielle d’oxygène (entre 0,21 et 50 bars). Tout d’abord, les mécanismes de vieillissement thermique ont été analysés et élucidés par spectroscopie IRTF et par calorimétrie différentielle (DSC) sur des films de PEEK suffisamment minces (entre 10 et 60 μm d’épaisseur) pour s’affranchir totalement des effets de la diffusion d’oxygène. L’oxydation se produit sur les cycles aromatiques provoquant la croissance de cinq nouvelles bandes d’absorption IR centrées à 3650, 3525, 1780, 1740 et 1718 cm-1 et attribuées aux vibrations d’élongation des liaisons O–H du phénol et de l’acide benzoïque, et des liaisons C–O de l’anhydride benzoïque, du benzoate de phényle et de la fluorénone respectivement. De plus, l’oxydation conduit à une large prédominance de la réticulation sur les coupures de chaîne (augmentation de Tg) empêchant le recuit du PEEK, en particulier lorsque la température d’exposition est supérieure au pied du pic de fusion. Enfin, les conséquences de l’oxydation sur les propriétés élastiques ont été analysées et élucidées par micro-indentation sur des sections droites préalablement polies de plaquettes de PEEK de 3 mm d’épaisseur. Les variations du module d’Young et du taux de cristallinité se corrèlent parfaitement, vérifiant ainsi la relation de Tobolsky.

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Probing the Chemistry and Spectroscopy of Radiation-Sensitive Polymers by Parallel-Detection EELS

Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America ◽

10.1017/s042482010013376x ◽

1990 ◽

Vol 48 (2) ◽

pp. 34-35

Author(s):

E. G. Rightor ◽

G. P. Young

Keyword(s):

Electron Beam ◽

Bisphenol A ◽

Energy Loss ◽

Parallel Detection ◽

Commercial Grade ◽

Incident Electron Beam ◽

Ptfe Sample ◽

Spectroscopic Information ◽

Edge Features ◽

Electron Energy Loss

Investigation of neat polymers by TEM is often thwarted by their sensitivity to the incident electron beam, which also limits the usefulness of chemical and spectroscopic information available by electron energy loss spectroscopy (EELS) for these materials. However, parallel-detection EELS systems allow reduced radiation damage, due to their far greater efficiency, thereby promoting their use to obtain this information for polymers. This is evident in qualitative identification of beam sensitive components in polymer blends and detailed investigations of near-edge features of homopolymers.Spectra were obtained for a poly(bisphenol-A carbonate) (BPAC) blend containing poly(tetrafluoroethylene) (PTFE) using a parallel-EELS and a serial-EELS (Gatan 666, 607) for comparison. A series of homopolymers was also examined using parallel-EELS on a JEOL 2000FX TEM employing a LaB6 filament at 100 kV. Pure homopolymers were obtained from Scientific Polymer Products. The PTFE sample was commercial grade. Polymers were microtomed on a Reichert-Jung Ultracut E and placed on holey carbon grids.

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Electron microscope studies of the plastic deformation of ternary alloys based on GaAs

Proceedings, annual meeting, Electron Microscopy Society of America ◽

10.1017/s0424820100178732 ◽

1990 ◽

Vol 48 (4) ◽

pp. 1120-1120

Author(s):

R. Haswell ◽

U. Bangert ◽

P. Charsley

Keyword(s):

Plastic Deformation ◽

Electron Microscope ◽

Room Temperature ◽

Stacking Faults ◽

The Other ◽

Ternary Alloys ◽

Dislocation Mobility ◽

Semiconducting Materials ◽

Micro Indentation

A knowledge of the behaviour of dislocations in semiconducting materials is essential to the understanding of devices which use them . This work is concerned with dislocations in alloys related to the semiconductor GaAs . Previous work on GaAs has shown that microtwinning occurs on one of the <110> rosette arms after indentation in preference to the other . We have shown that the effect of replacing some of the Ga atoms by Al results in microtwinning in both of the rosette arms.In the work to be reported dislocations in specimens of different compositions of Gax Al(1-x) As and Gax In(1-x) As have been studied by using micro indentation on a (001) face at room temperature . A range of electron microscope techniques have been used to investigate the type of dislocations and stacking faults/microtwins in the rosette arms , which are parallel to the [110] and [10] , as a function of composition for both alloys . Under certain conditions microtwinning occurs in both directions . This will be discussed in terms of the dislocation mobility.

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