Imaging Polymer Systems with High-Angle Annular Dark Field Scanning Transmission Electron Microscopy (HAADF−STEM)

2009 ◽  
Vol 42 (7) ◽  
pp. 2581-2586 ◽  
Author(s):  
Joachim Loos ◽  
Erwan Sourty ◽  
Kangbo Lu ◽  
Gijsbertus de With ◽  
Svetlana v. Bavel
Keyword(s):  
Electron Microscopy ◽  
Transmission Electron Microscopy ◽  
Scanning Transmission Electron Microscopy ◽  
Dark Field ◽  
High Angle ◽  
Polymer Systems ◽  
Scanning Transmission Electron ◽  
Transmission Electron ◽  
Scanning Transmission ◽  
Annular Dark Field

High-Angle Annular Dark Field Scanning Transmission Electron Microscopy on Carbon-Based Functional Polymer Systems

2009 ◽  
Vol 15 (3) ◽  
pp. 251-258 ◽  
Author(s):  
Erwan Sourty ◽  
Svetlana van Bavel ◽  
Kangbo Lu ◽  
Ralph Guerra ◽  
Georg Bar ◽  
...  
Keyword(s):  
Electron Microscopy ◽  
Transmission Electron Microscopy ◽  
Scanning Transmission Electron Microscopy ◽  
Dark Field ◽  
High Angle ◽  
Functional Polymer ◽  
Polymer Systems ◽  
Transmission Electron ◽  
Scanning Transmission ◽  
Annular Dark Field

AbstractTwo purely carbon-based functional polymer systems were investigated by bright-field conventional transmission electron microscopy (CTEM) and high-angle annular dark-field scanning transmission electron microscopy (HAADF-STEM). For a carbon black (CB) filled polymer system, HAADF-STEM provides high contrast between the CB agglomerates and the polymer matrix so that details of the interface organization easily can be revealed and assignment of the CB phase is straightforward. For a second system, the functional polymer blend representing the photoactive layer of a polymer solar cell, details of its nanoscale organization could be observed that were not accessible with CTEM. By varying the camera length in HAADF-STEM imaging, the contrast can be enhanced between crystalline and amorphous compounds due to diffraction contrast so that nanoscale interconnections between domains are identified. In general, due to its incoherent imaging characteristics HAADF-STEM allows for reliable interpretation of the data obtained.

scholarly journals De los micrómetros a los picómetros: evolución de las técnicas de microscopia para el estudio de nanomateriales

2019 ◽  
Vol 12 (23) ◽  
pp. 1
Author(s):  
Margarita Rivera Hernandez ◽  
Jesús Arenas-Alatorre
Keyword(s):  
Electron Microscopy ◽  
Transmission Electron Microscopy ◽  
High Resolution ◽  
Scanning Transmission Electron Microscopy ◽  
Dark Field ◽  
High Angle ◽  
Scanning Transmission Electron ◽  
Transmission Electron ◽  
Scanning Transmission ◽  
Annular Dark Field

Sin lugar a duda, las técnicas de microscopía electrónica (ME) y microscopia de sonda de barrido (SPM) han contribuido enormemente al estudio de nanomateriales, dando información de propiedades morfológicas, estructurales, de superficie, eléctricas y magnéticas, entre muchas otras. Las técnicas más empleadas para estudios a nanoescala han sido las microscopías electrónicas de transmisión y barrido, y por otro lado, las de efecto túnel y de fuerza atómica, respectivamente. Los avances tecnológicos en los últimos años de estas técnicas han permitido límites de resolución que hace 25 años era inimaginables, siendo los últimos valores alcanzados de decenas de picómetros (10<sup>-12</sup> m). Cabe señalar, que más allá de esto, las técnicas de microscopia mencionadas han crecido en sus capacidades de análisis en el campo de las nanociencias y nanotecnología, dando lugar a otras técnicas como microscopía electrónica de barrido por transmisión (STEM, del inglés Scanning Transmission Electron Microscopy), Imagen en campo obscuro a ángulo grande en alta resolución (HR-HAADF, del inglés High Resolution - High Angle Annular Dark Field), Crio-Microscopía Electrónica, Tomografía electrónica, Espectroscopía de tunelamiento, Tunelamiento inelástico, Curvas de fuerza, etc. Lo anterior, no solo ha complementado la información morfológica y estructural, sino que también, ha contribuido al entendimiento de fenómenos de interacción y propiedades fisicoquímicas a escalas atómicas y moleculares. En este artículo se hace un análisis de la trascendencia actual que tienen las técnicas de microscopía electrónica, así como las de microscopia de sonda de barrido (SPM), y se menciona brevemente el alcance de estas técnicas como métodos de modificación de superficies a ultra alta resolución, como el caso de la nanolitografía y nanomanipulación, que estan abriendo un panorama enorme en el desarrollo de las  tecnologías del futuro.

scholarly journals Quantitative Measurement of Volumes for Nanoparticles by High-Angle Annular Dark-Field Scanning Transmission Electron Microscopy

2010 ◽  
Vol 16 (S2) ◽  
pp. 1764-1765 ◽  
Author(s):  
B Yuan ◽  
H Heinrich ◽  
B Yao ◽  
A Dutta
Keyword(s):  
Electron Microscopy ◽  
Transmission Electron Microscopy ◽  
Scanning Transmission Electron Microscopy ◽  
Quantitative Measurement ◽  
Dark Field ◽  
High Angle ◽  
Scanning Transmission Electron ◽  
Transmission Electron ◽  
Scanning Transmission ◽  
Annular Dark Field

Extended abstract of a paper presented at Microscopy and Microanalysis 2010 in Portland, Oregon, USA, August 1 – August 5, 2010.

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