Using the generalized chebyshev inequalities in estimating the interval failure rate

1999 ◽  
Vol 35 (6) ◽  
pp. 965-972 ◽  
Author(s):  
L. S. Stoikova
Keyword(s):  
Failure Rate ◽  
Generalized Chebyshev Inequalities ◽  
Chebyshev Inequalities

إيجاد أفضل مقدر لمعلمات التوزيع الخطي العام لمعدلات الفشل باستخدام المحاكاة

2012 ◽  
Vol 18 (69) ◽  
pp. 237
Author(s):  
فاتن فاروق البدري ◽  
علا علي فرج
Keyword(s):  
Failure Rate ◽  
Rate Distribution

تهدف دراسة التوزيعات الإحصائية إلى الحصول على التوصيفات الأفضل لمجموعة المتغيرات والظواهر والتي كل منها يمكن أن يسلك سلوك واحد من هذه التوزيعات. وتعد دراسة عمليات التقدير لمعلمات هذه  التوزيعات من الأمور المهمة والتي لا غنى عنها في دراسة سلوك هذه المتغيرات ونتيجة لذلك جاء هذا البحث محاولة للوصول إلى أفضل طريقة تقدير معلمات توزيع هو واحد من أهم التوزيعات الإحصائية وهو التوزيع الخطي العام لمعدلات الفشل، (Generalized Linear Failure Rate Distribution) وذلك من خلال دراسة الجوانب النظرية بالاعتماد على طرق الاستدلال الإحصائي مثل طريقة الإمكان الأعظم وطريقة المربعات الصغرى وبالإضافة إلى الطريقة المختلطة(طريقة مقترحة) . وتضمن البحث إجراء المقارنات بين طرائق التقدير الثلاثة لمعلمات التوزيع الخطي العام لمعدلات الفشل (GLFRD)، بالاعتماد على مقياسين إحصائيين مهمين هما متوسط مربعات الخطأ (MSE)، ومتوسط الخطأ النسبي المطلق (MAPE)، للحصول على طريقة التقدير الأفضل.

Introduction to methods of describing the forecast on the risk of failure to the means of transport

2012 ◽  
Vol 30 (1) ◽  
pp. 119-127
Author(s):  
Henryk Tomaszek ◽  
Ryszard Kaleta ◽  
Mariusz Zieja
Keyword(s):  
Long Range ◽  
Failure Rate ◽  
Risk Of Failure ◽  
The Relationship ◽  
Preliminary Description

The paper is an attempt to describe the forecast on the risk of damages resulting from failures to the means of transport. It has been assumed that the product of the probability of failure (fault) occurrence and measures of effects thereof are to be used to estimate the risk. The below presented dependences that describe the risk of damages have been based on the failure rate. With the available literature as the basis, a preliminary description of the probability of a failure (fault) and the level of losses has been proposed. The paper gives dependences on short- and long-range risk forecasts. To determine the relationship for the probability of a failure (fault), the failure rate has been used.

Electromigration and Electrochemical Reaction Mixed Failure Mechanism in Gold Interconnection System

1999 ◽  
Author(s):  
Hide Murayama ◽  
Makoto Yamazaki ◽  
Shigeru Nakajima
Keyword(s):  
Failure Mechanism ◽  
Failure Rate ◽  
Electrochemical Reaction ◽  
Dielectric Films ◽  
Failure Rates ◽  
Interlayer Dielectric ◽  
Bipolar Devices ◽  
Gold Metallization

Abstract Power bipolar devices with gold metallization experience high failure rates. The failures are characterized as shorts, detected during LSI testing at burn-in. Many of these shorted locations are the same for the failed devices. From a statistical lot analysis, it is found that the short failure rate is higher for devices with thinner interlayer dielectric films. Based upon these results, a new electromigration and electrochemical reaction mixed failure mechanism is proposed for the failure.

Sign in / Sign up

Export Citation Format

Share Document